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等離子刻蝕速率

時間:2019-12-25 10:26
什么是刻蝕
刻蝕是采用化學或物理方法有選擇地從芯片表面去除不需要材料的過程。刻蝕目的:在涂膠的芯片表面上正確的復制掩膜圖形。
 
什么是物理干法刻蝕
目前刻蝕采用的物理方法是使用等離子刻蝕系統把芯片表面暴露于氣態中產生的等離子體,等離子體通過光刻膠中開出的窗口與芯片發生物理或化學反應(或兩種反應),從而去掉暴露的表面材料。
 
什么等離子刻蝕速率
等離子刻蝕速率指等離子刻蝕過程去除芯片表面不需要材料的速度。等離子刻蝕速率通常用 Å/min
表示,刻蝕速率=Å/min。刻蝕速率正比于蝕劑濃度,與芯片表面形狀等因素有關。等離子刻蝕電介質及金屬材料的刻蝕速率
模塊化工藝處理系統即等離子刻蝕系統是為了滿足廣泛的研發及生產領域的等離子工藝處理要求而研發的多功能平臺。
盡管每個用戶的刻蝕應用可能不一樣,不同等離子工藝應用的基本效果如下表所示。我們致力于協助客戶獲取最佳的等離子工藝性能。

等離子刻蝕工藝


電介質-含氟化學
蝕刻材料 基片 蝕刻速率 (Å/min) 選擇性 均勻性 (±%)
 
Thermal SiO2
二氧化硅
 
Silicon
 
450
 
10:1
 
3%
 
PECVD SiO2
PECVD 二氧化硅
 
Silicon
 
450
 
10:1
 
5%
 
4%PSG
 
Silicon
 
550
 
12:1
 
5%
 
PECVD SiN3
 
Oxide
 
450
 
4:1
 
5%
 
LPCVD SiN3
 
Oxide
 
300
 
2:1
 
5%
 
Isotropic
 
Silicon
 
250
 
10:1
 
5%
 
Single Xtal
單晶體
 
n/a
 
300
 
(mask) 2:1
 
5%
 
TiW
 
Oxide
 
250
 
3:1
 
5%
 
Molybdenum
 
Oxide
 
1000
 
15:1
 
8%
 
Polyimide
聚酰亞胺
 
Aluminum
 
600
 
>30:1
 
5%
 
Photo-Resist
光刻膠
 
Oxide
 
1000
 
>20:1
 
5%


電介質-含氯化學
被蝕刻材料 基片 蝕刻速率 (Å/min) 選擇性 均 勻 性 (±%)
 
Pure Aluminum
純鋁
 
Thermal Oxide
 
800
 
12:1
 
4%
 
Al/1-2%Si
 
Thermal Oxide
 
600
 
8:1
 
5%
 
Al/<2%Cu
 
Thermal Oxide
 
500
 
6:1
 
5%
 
Polysilicon
 
Thermal Oxide
 
400
15:1  
5%
 
Single Xtal
 
n/a
 
500
(mask) 10:1  
5%
 
GaAs Via
 
n/a
 
1µ/min
 
>10:1
 
5%

注:蝕刻速率及選擇性可以優化,提供產出效率。



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